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高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

發(fā)布時間：2015-05-06 閱讀：1145次

采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

二、適用行業(yè)：

廣泛用于：生產企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù).

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